封装测试
当前所在的位置: 首页 · 产品系列 · 封装测试 · 老化插座
老化插座

● 提供满足市场主流需求的标准和定制测试方案

● HTOL / LTOL, HAST, THB等各种测试项目要求的产品和方案经验

● 强大的热仿真能力,可以提供系统级、芯片测试级的老化测试的瞬态和稳态的热仿真

● 充分的试验验证能力,测试接触探针和插座/盖子的实际工作能力

● 多台专用加工和检测,确保产品符合客户要求

● 多台高效的自动化和半自动的组装,确保产品及时的出货

RFQ
核心优势
应用领域
汽车

帮助企业掌握连接的新时代

汽车1

帮助企业掌握连接的新时代

汽车2

帮助企业掌握连接的新时代

汽车3

帮助企业掌握连接的新时代

汽车4

帮助企业掌握连接的新时代

与我们取得联系
联系我们
应用领域
行业洞察
联系我们

售前/总联系人:CSR@twinsolution.com

电话:86-0512-67069909

售后服务:FAE@twinsolution.com

分享与关注:

Copyright © 上海韬盛电子科技股份有限公司 . 版权所有 技术支持:网站建设 备案号:沪ICP备19040573号

版权隐私 | 免责申明 | 网站地图